Zařízení pro automatizované testování polovodičových součástek na platformě PXI

Společnost NI uvedla na trh nový modul pro generování digitálních signálů NI PXe-6750 spolu s editorem těchto signálů NI Digital Pattern Editor. Výrobci, kteří k testování polovodičových součástek dosud používali jednoúčelová testovací zařízení, tak nyní mohou využít přednosti otevřené modulární platformy PXI (PCI eXtensions for Instrumentation). Umožňuje jim to nejen snížit náklady na zkušební techniku, ale také urychlit zkoušky nových zařízení.

Modul NI PXIe-6570 má schopnost v jednom subsystému generovat až 100 milionů vektorů za sekundu s možností parametrizovat napětí a proud v až 256 synchronizovaných digitálních pinech. Vzhledem k modularitě systémů může uživatel sestavit zkušební zařízení s tolika (tak mnoho nebo tak málo) měřicími moduly, jak je pro dané zkoušky třeba.

Editor NI Digital Pattern Editor umožňuje mapovat piny zařízení a vytvářet specifikace a vzory signálů. Dovoluje též zkrátit dobu vypracovávání návrhu zkušebního plánu. Interaktivní schéma pinů zkracuje dobu odladění a optimalizace testů.

Nový modul ocení výrobci integrovaných obvodů zvláště s radio­frekvenčními a analogovými obvody pro zařízení pro internet věcí a zařízení s bezdrátovou komunikací, jimž umožní snížit cenu na pin integrovaného obvodu. Výhodou je také prostorová úspornost zařízení na platformě PXI, kterou ocení zejména ti, kteří používají zkušební zařízení v provozních podmínkách.

National Instruments, tel.: +36 14 811 436, e-mail: orsolya2.szabo@ni.com, www.ni.com