Článek ve formátu PDF je možné stáhnout
zde.
Mikroskopické objektivy pro měření teploty malých objektů
Společnost Micro-Epsilon uvedla na trh speciální mikroskopické objektivy pro detailní rozpoznávání miniaturních předmětů (obr. 1). Nové objektivy jsou určeny pro infrakamery TIM450 s rozlišením 382 × 288 pixelů (teplotní citlivost 90 mK) a infrakamery TIM640 s rozlišením 640 × 480 pixelů (teplotní citlivost 120 mK). Měřicí rozsah termokamer je od –20 do +900 °C.
Ve spojení s výkonným softwarem TIMConnect umožňují termovizní kamery s novými objektivy detailní analýzu teplotních dějů malých objektů a součástek v reálném čase s rychlostí až 125 snímků za sekundu. Součástí dodávky je laboratorní stativ pro stabilní ustavení kamery, rozhraní pro kamery PIF (Process Interface), rozhraní USB pro připojení k PC a software TIMConnect. Elektrické obvody lze analyzovat bez ovlivňování činnosti přítomností kamery TIM. Velikost snímaného bodu začíná od 28 µm při měřicí vzdálenosti do 100 mm od objektu. Zmíněný mikroskopický objektiv lze dokoupit také k již používaným infračerveným kamerám Micro-Epsilon.
Nové konfokální sondy IFS2406-3 a IFS2407/90-0.3
Společnost Micro-Epsilon představuje další novinku v oblasti měření drsnosti povrchu konfokálními sondami IFS2406-3 a IFS2407/90-0.3. V současné době jsou kladeny velmi vysoké požadavky na kvalitu výrobků, zejména v automobilovém průmyslu. Konfokální chromatické snímače umožňují vysoce přesnou kontrolu nejjemnějších povrchových struktur. Sonda confocalDT IFS2407/90-0.3 měří s přesností 0,15 µm v režimu měření vzdálenosti a polohy. V módu měření tloušťky dosahuje přesnosti 0,3 µm.
Konfokální sondy IFS2406-3 a IFS2407/90-0.3 se používají např. k měření drsnosti brzdových kotoučů (obr. 2). Povrchová struktura brzdového kotouče je pro lidské oko téměř nerozpoznatelná: disk je hladký a vyleštěný. Teprve mikroskop odhalí jemnou strukturu povrchu.
Obě sondy se liší velikostí a provedením. Sonda IFS2407/90-0.3 má boční výstup světelného paprsku (90°). Sonda IFS2406-3 měří v axiálním směru. Přímý odraz paprsku konfokálních snímačů omezuje vliv stínů, které mohou způsobovat zkreslení ve výstupním signálu. Dokonce i při naklopení předmětu lze měřit velmi přesně – ovšem v rozsahu dovoleného naklonění od ±6,5° do ±27° (závisí na typu použité sondy).
Konfokální chromatické měřicí systémy se používají k měření vzdáleností, polohy, tloušťky a k vyhodnocení intenzity odraženého světla. Na základě určení vzdálenosti lze provést povrchovou topografii objektů.
(MICRO-EPSILON Czech Republic, spol. s r. o.)
Obr. 1. Mikroskopický objektiv pro termokamery
Obr. 2. Konfokální sondy IFS2406-3 a IFS2407/90-0.3